论文部分内容阅读
该文简要介绍通过半导体器件的环境试验计算器件寿命。首先介绍了4种加速模型，以及各模型的应用；其次，根据给定的置信度水平以及试验结果查x2分布表；而后，根据试验时间和样本量求得失效率；最后，根据电子元器件服从指数分布的假设条件，求得器件的寿命。
半导体器件寿命计算
【摘 要】
：
该文简要介绍通过半导体器件的环境试验计算器件寿命。首先介绍了4种加速模型，以及各模型的应用；其次，根据给定的置信度水平以及试验结果查x2分布表；而后，根据试验时间和样本
【机 构】
：
No.36 Research Institute of CETC, Jiaxing Zhejiang 314033, China
【出 处】
：
浙江省电子学会2012学术年会
【发表日期】
：
2012年期
其他文献