功能分子及低维层状材料的原子力显微学研究

来源 :2013年纳米、表面和Graphene科学与技术全国会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户：ngnza

【摘要】

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近几年来,原子力显微技术(Atomic Force Microscopy,AFM),特别是非接触式原子力显微技术(Noncontact AFM,NC-AFM),取得了快速而令人惊叹的进展,实现了包括表面原子的化学识别

【作者】

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程志海陈鹏程仉君袁秉凯季威裘晓辉

【机构】

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国家纳米科学中心纳米表征研究室,北京100190中国人民大学物理系,北京100872

【出处】

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2013年纳米、表面和Graphene科学与技术全国会议

【发表日期】

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2013年12期

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近几年来,原子力显微技术(Atomic Force Microscopy,AFM),特别是非接触式原子力显微技术(Noncontact AFM,NC-AFM),取得了快速而令人惊叹的进展,实现了包括表面原子的化学识别,分子内原子和共价键分子分辨,单原子/分子电荷态的测量在内的许多重要研究成果.利用基于qPlus原子力传感器的NC-AFM和一氧化碳分子修饰的针尖,我们实现了分子间相互作用(包括氢键和配位键)的实空间观察、单个分子立体结构的断层扫描成像以及低维层状材料(包括石墨烯、氮化硼及其平面内异质结构)的高分辨研究.

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