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提出了一种基于对消技术的微波部件弱无源互调测试方法,针对辐射型和导波型器件分别给出了无源互调测试系统框图,并仿真分析了对消电路中延时线的设计要求。该测试方法通过采用对消技术在信号源接入测试电路之前将其杂散中的待测互调频率成分消除,这样保证了后续互调测试中没有信号源杂散的干扰,提高了弱PIM测试的准确性,能够用在生产工艺过程中对原材料以及产品PIM来源的检测,提高产品合格率。