【摘 要】
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利用IR-1红外发射率测量仪测量经不同温度热处理ZnO样品在8-14μm红外窗口波段的平均发射率,X射线衍射(XRD)结果表明各样品并无结构变化,通过HL5500霍尔参数测量对样品进行Hall测试,发现发射率、载流子浓度和迁移率三者之间存在着一定的联系.文中结合Hall测试结果探讨了这三者之间的相互关系,并给出一定的物理解释.
【机 构】
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南京航空航天大学材料科学与技术学院(南京) 浙江大学硅材料国家重点实验室(杭州)
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利用IR-1红外发射率测量仪测量经不同温度热处理ZnO样品在8-14μm红外窗口波段的平均发射率,X射线衍射(XRD)结果表明各样品并无结构变化,通过HL5500霍尔参数测量对样品进行Hall测试,发现发射率、载流子浓度和迁移率三者之间存在着一定的联系.文中结合Hall测试结果探讨了这三者之间的相互关系,并给出一定的物理解释.
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