随着现代数字电子技术的发展，测试已经是数字电路设计中费用最高、难度最大、耗时最长的一个环节。如何有效地进行数字电路板测试，密切关系着数字设备的研发时间及系统可靠性等问题。针对传统依靠人工使用示波器、万用表、逻辑分析仪等设备对数字电路板进行测试具有过程复杂、工作量大、可靠性低等缺点，本课题研究一套通用的高性能、自动化数字电路板测试系统。系统主要性能指标为：测试频率最高达50MHz并可调；测试电平兼容-6V~+9V，可编程步长为100mV；测试通道达256路，能同步工作；每通道存储深度最大达1MBits，电流驱动能力达50mA并有过载保护，输入、输出均可三态。本课题主要完成数字电路板测试系统的下位机硬件电路设计及硬件驱动程序设计。核心处理系统采用FPGA+SDRAM方案实现，解决了传统数字电路板测试系统灵活性低、存储深度小、测试速度慢等问题。发送驱动模块可三态输出，能发送比传统测试系统更多样化的测试向量。接收调理模块采用两级比较结构，可判断高、低电平及不定状态，提高了故障判断的准确性。测试过程为：上位机初始化测试电平、测试频率及测试通道数后，下位机接收上位机发送的测试向量保存到发送缓存模块，通过发送调理电路连续地输出至被测数字电路板；被测电路板响应后，经接收调理电路保存至接收缓存模块，最后集中发往上位机供其分析处理；通过对比发送的测试向量与被测电路板的响应向量，可对被测电路板进行性能分析与故障检测。经过现场调试与验证，本课题设计的数字电路板测试系统性能稳定，各项性能参数均能达到预期提出的要求。