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在工业应用的许多领域，由于无重复试验的饱和析因设计所需的总试验次数减少，同时又可考察较多的因子，从而能节约大量的时间、人力和物力，所以它正越来越受到欢迎。然而在分析这类数据时因为无多余的自由度可用于估计误差方差，因而不能采用标准的方差分析法。现在，已有一些用于分析饱和析因设计的数值分析方法，通常它们假设试验指标服从正态分布，但是在实际情况来看试验指标并不总是服从正态分布的，例如在可靠性试验中产品的寿命就通常服从威布尔分布。本文采用蒙特卡洛方法模拟研究了五种典型的饱和析因设计数值分析法在采用二水平析因设计时试验指标分别服从正态分布、指数分布、威布尔分布下检验的势表现，并讨论了势与变异系数倒数之间的关系。