FPGA因为其开发周期短、灵活性强等诸多优点,已成为当今世界应用最为广泛的半导体器件之一。在FPGA EDA流程中,布局是非常重要的一个环节,通常使用模拟退火算法来求取一个近似最优解。但在集成电路规模日益增大的当下,传统的模拟退火算法在布局效率上越来越不能让人满意,而一些试图提高布局效率的算法往往又导致布局质量降低。本文以传统的模拟退火算法为基础,提出一种改进型的布局算法,称为超快速退火回火算法。该算法将超快速模拟重复退火和模拟回火相结合,首先在高温时利用超快速模拟重复退火温度指数下降的特点,在进行短暂的高温随机过程后,立刻使算法进入到适合搜索全局最优解的温度,这样就节省了大量时间,加速了算法的运行。随后在低温的过程中又引入模拟回火过程,这时候温度被当作一个变量,在每一次温度更新时,不仅可以下降,还可以保持不变,甚至可以上升到温度序列的上一个温度,这样整个温度序列就会被拉长,从而增加低温阶段的搜索,使得算法可以以更高的概率向全局最优解收敛。这样一个在高温时加速,低温时增加搜索次数的方式在总体上使得算法在提升布局效率的同时提高了布局的质量。仿真实验表明,超快速回火退火算法与传统的模拟退火算法相比在布局效率方面提升11.22%,在关键路径延时方面优化1.91%,在总线长方面优化0.16%。