随着集成电路的发展，成品测试正发挥着越来越重要作用，尤其在航天领域中，需要有高可靠性的电子元器件，对其进行完整测试是保证质量最有效方法。微控制器处于航天产品的核心部位，对其进行有效测试始终是个难题。　　本课题以航天产品中广泛应用的AT89C51为例，对微控制器的测试技术进行了研究，依据AT89C51数据手册中对功能模块的描述，将测试对象分为两大部分，一部分为核心处理器电路，采用构造系统图的方法，建立了三种故障模型，并分别制定了相应测试算法；另一部分是外围电路，包括存储器、I/O口、定时器／计数器和中断控制器，采用逐一分解的方法，对每一个部件建立故障模型，设计测试算法。在理论研究基础上，本课题设定一台测试系统为实现平台，利用指令集将算法转化为汇编语言，最终以机器语言的形式落实于测试向量中，从而将上述测试方法加以执行，完成了功能测试。　　借助功能测试的基础，本课题参照数据手册要求，在做直流参数测试时，通过运行一段功能测试向量，使其处于待测试状态，通过仪表量测，得到实际数值，完成从测试条件到测试结果的获得；做交流参数测试时，将测试条件和测试结果判据都作为功能测试的条件，采用的是验证的方法，在保证结果的同时，提高了测试速度，降低了程序的复杂情况。　　本课题通过对微控制测试技术的研究，开发出了AT89C51测试程序，目前该程序已经应用到实际的测试工作中，测试状态稳定，取得了较好效果。