国防关键领域的发展对频率与时间基准的要求越来越高,作为铯原子频标系统的核心部件,电子倍增器是直接制约铯原子频标系统寿命的关键环节,如何对电子倍增器进行寿命评估是目前铯原子频标系统长寿命攻关必须解决的重要问题。本文围绕电子倍增器的寿命评估问题,对单应力加速退化试验方法进行扩展,建立双应力加速退化试验方法,并将其成功应用于电子倍增器寿命研究,获得了较好的应用效果。本文主要研究内容与结论包括:1.对电子倍增器工作原理和退化失效进行分析,提出基于双应力加速退化试验的电子倍增器寿命评估方法。2.在单应力加速退化试验方法基础上,研究基于伪失效寿命和退化量分布的双应力加速退化试验建模分析方法,为电子倍增器加速退化试验建模分析提供方法支撑。3.提出通过步进摸底试验确定加速退化试验最高加速应力水平的方法。在摸底试验获得先验信息的基础上,设计并实施电子倍增器双应力加速退化试验,应用双应力加速退化试验建模分析方法对电子倍增器加速退化试验数据进行分析,给出倍增器寿命评估结果。4.通过模型评价对两种分析方法进行适用性研究,对不同方法得出的寿命评估结果进行优选,给出较优的电子倍增器寿命评估结论。本文的研究对于电子倍增器长寿命攻关具有重要的工程价值,对于推动我国铯原子频标系统自主研制具有重要意义,同时对于加速退化试验技术的深入完善具有一定的借鉴意义。