论文部分内容阅读
随着时钟速率的飞速提高,电源完整性、信号完整性以及电磁干扰等问题已经成为制约高速电路系统进一步发展的关键因素,其中电源完整性是所有高速电路不可忽视的问题。传统的电源噪声抑制技术主要采用不同种类的去耦电容,但这些电容已经无法抑制频率越来越高的电源噪声。电磁带隙结构(EBG)和缺陷地结构(DGS)等人工电磁材料可以很容易的工作在微波频段,因而正成为潜在的电源噪声抑制技术得到重视和研究。但是EBG和DGS等技术也存在一些问题,包括结构尺寸较大,容易引起信号完整性问题等。本文对共面型EBG和DGS在电源噪声