随着现代工业技术的不断发展,数字电路的集成度越来越高,系统芯片(System-on-a-Chip,SoC)上集成的知识产权核(Intellectual Property,IP)越来越多,功能也越来越复杂。在测试过程中,为了保证较高的测试故障覆盖率,不断增加的芯片复杂度使测试数据量大幅增加,由此增加了对自动测试仪(Automatic Test Equipment,ATE)存储容量和带宽的要求,并且会导致测试应用时间过长、测试功耗过大。因此,减小测试数据量是SoC测试的一个研究热点,在这些研究中,测试数据压缩是解决测试数据量过大和测试时间过长的有效方法之一。本文主要针对SoC测试激励数据压缩进行了研究,主要创新性工作有:(1)提出一种基于镜像对称参考切片的多扫描链测试数据压缩方法。该方法采用两个相互镜像对称的参考切片与扫描切片做相容性比较,相比单参考切片提高了相容概率。若扫描切片与参考切片相容,只需要很少的几位编码就可以表示这个扫描切片,并且可以并行载入多扫描链;若不相容,参考切片被该扫描切片替换。提出一种贪婪相容策略,用来处理扫描切片与参考切片同时满足多种相容关系时的选取问题。根据Huffman编码原理确定不同相容情况的编码码字,进一步提高了测试数据的压缩率。(2)提出了一种基于变换编码的测试数据广播压缩方法。该方法将变换编码应用到广播扫描压缩方法中,通过hadamard矩阵变换将原测试集拆分成主分量和残差分量。采用列最大匹配策略对主分量进行选取,使得更多的残差分量满足广播的条件。实验结果表明,在增加一定硬件成本的基础上,提高了广播向量的数目,不仅提高了测试数据压缩率,同时减少了测试时间。本文采用MinTest测试集,针对ISCAS’89基准电路做了相关的实验。实验结果表明,本文提出的两种方法都取得了较好的压缩效果,减少了测试应用时间和测试功耗。