随着电子信息技术和测试技术的发展，为了适应测试系统的快速发展以及稳定性、可靠性的需求，论文提出一种采用DSP+FPGA架构，以DSP为主处理器，FPGA为协处理器，包含模数转换、数模转换、各种常用和专用总线接口（URAT、CAN总线、ARINC429航空总线、USB总线）、高速大容量存储、数字IO和OC门、矩阵键盘、LCD显示等接口的测试系统。论文重点在于DSP部分。论文首先介绍课题的研究背景，分析DSP和FPGA在嵌入式测试系统中的优点；提出系统的总体设计方案和具体的硬件设计，包括系统结构框图、系统各个子模块的设计，系统的供电设计和时钟设计等；介绍TI针对TMS320系列DSP推出的DSP/BIOS实时操作系统，详细介绍DSP/BIOS的线程调度和线程同步；设计了DSP和FPGA间的接口协议，简要介绍FPGA内部的接口设计，重点介绍DSP几个重要模块的驱动程序设计和中断设计，并提出加载DSP/BIOS操作系统的DSP应用程序设计方案；针对NAND FLASH大容量存储，介绍YAFFS文件系统以及YAFFS文件系统在测试系统上的移植和应用；最后，通过一个调度系统各模块协同工作的实例，说明测试系统的应用程序设计的过程和测试方法，也给出一些模块单独测试的结果。