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光纤器件在光纤通信系统及光纤传感系统中是必不可少的器件。在光纤器件制造中采用超细径光纤不仅可以减小器件和相应部件的体积,而且可以提高器件性能。光纤直径的减小对光纤器件制作过程中的微张力检测提出了更高的要求,因此,研究超细径光纤微张力测量装置具有重要的应用价值。本文采用悬臂弯曲原理结合光电四象限测量方法,建立微张力测量模型,并通过噪声分析确定微力测量装置的分辨率同结构参数之间的关系。通过数值分析方法对微力测量装置的结构参数进行优化,在满足微力测量范围的前提下,计算出微力测量装置的最小分辨率以及