随着计算机硬件和软件技术的飞速发展,嵌入式系统的硬件规模和性能得到了极大的提高,相应的,嵌入式系统软件和应用软件的复杂性和规模也日益提高,嵌入式软件测试作为嵌入式软件开发重要环节的同时,也成为了嵌入式软件质量的重要保障。任何软件的开发都不是一次成功的,需要成百上千次的反复修改和测试,然而由于嵌入式软件的复杂性,决定着嵌入式软件的修改是一项困难的任务,在修改的过程中容易引入新的错误。嵌入式软件回归测试就是为了能找到程序修改后出现错误的原因,它在整个软件开发的生命周期中占有重要地位。在我国,嵌入式软件测试技术的研究尚处于初级阶段,如何在嵌入式软件测试中能够高效地定位出程序修改的错误是一个亟待解决的课题。本文介绍了回归测试的三种错误定位方法：基于程序切片错误定位的方法；基于程序频谱回归测试错误定位的方法和基于程序代码覆盖错误定位的方法；以及面向对象的回归测试的一种方法即原子依赖分析。接着,本文提出一种适用于嵌入式软件的基于程序频谱和原子依赖的回归测试错误定位方法,并且通过实例对该方法进行了说明。该方法在嵌入式软件回归测试中能有效、准确地定位出错误位置,具有一定的实际使用价值。最后,本文介绍了嵌入式软件的测试过程,提出了一种新的嵌入式软件自动化测试框架运行策略。