在测试系统中，信号发生器一直是一个不可或缺的工具，它为测试系统提供激励源。随着技术的发展和工艺的进步，测试装备正朝向小型化、智能化、网络化发展，测试的功能不断增多，而测试的频率也不断提高，这对测试系统中的信号源提出了更高的要求，既要能输出各种复杂的波形，又要输出较高的频率，同时仪器的互操作性要高，这样可简化测试维修的成本和流程。总的来说，就是需要信号源的调制能力越来越强，在最小的体积下实现最多的功能，同时兼顾可靠性、兼容性、可维修性是未来测试装备发展的一个很重要的方向。基于FPGA实现DDS，可产生高性能、高精度的信号源，其优越性日益明显，而PXI总线接口作为一种通用化接口，具有小型化、速度快等优点，对信号源小型化发展提供技术支持。本文给出了总体结构图，详细描述了DDS的基本结构、工作原理以及实现效果，并对PCI总线的结构、信号定义以及基于PCI软核的接口逻辑的实现也做了进一步的详尽说明，给出相关硬件原理图和实物图，应用DDS原理，在FPGA上实现了DDS信号发生器的基本波形，如正弦波、方波和三角波，并基于FPGA生产商ALTERA自带PCI的IP核实现了具备普通CPU读写方式的PXI接口逻辑，并对结果进行了分析，使得该信号发生器在测试设备中优势明显。