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利用液晶自适应光学技术,建立了一套验证系统.使用哈特曼传感器为波前探测器件,反射式的LCOS液晶器件为波前校正器件,以闭环控制校正方式工作。初步实现了波前PV值从1.02λ下降到0.37λ（λ=633nm）的校正准确度,成像质量明显提高。系统的调制传递函数由校正前的不到10lp/mm提高到了校正后的超过50lp/mm。