多晶硅、单晶硅同步外延研究

来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:tenderboy
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介绍了多晶硅、单晶硅的同步外延.采用两步外延工艺,研究了硅烷流量、外延时间以及外延温度对外延质量参数α的影响.硅烷流量大、初始诱生时间短,则单晶硅条宽,多晶硅横向蔓延弱,但外延层质量可能较差.较优的条件是:硅烷诱生生长流量为13.1~17.5sccm,正常生长流量为7.0~7.88sccm,初始诱生时间为30~50s.温度影响较复杂,当温度低于980℃时,单晶硅条宽随温度增加而增加,在980℃附近达到最大,随后随温度增加单晶条宽降低.
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