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在北京同步辐射装置（BSRF）设计建造了一套基于多层膜偏振元件的软X射线偏振测量分析装置，可工作在双反、双透、前反后透和前透后反四种工作模式，既可作为偏振测量装置，用于同步辐射光束线和多层膜偏振元件偏振特性测量，也可作为通用反射率计，用于多层膜和薄膜的反射或透射率测量，又可用于磁性材料的磁光效应研究等。利用自行研制的装置和光学元件对BSRF的3W1B光束线的偏振特性进行了系统的测量。测量结果指出，在206eV时，输出光的线偏振度从起偏前的0．585上升到起偏后的0．995，同步光的线偏振度得到极大改善。利