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槽栅MOS器件的研究与进展
槽栅MOS器件的研究与进展
来源 :微电子学 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ysgmxh
【摘 要】
:
随产丰VLSIK器件尺寸越来越小,槽栅MOS器件被作为在深亚微9米及亚0.1范围极具应用前景的理想同出来。文中介绍了槽顺件提出的背景,论述了槽栅MOS器件的结构与特点,并就其发展现状和趋势以及存在
【作 者】
:
任红霞
郝跃
【机 构】
:
西安电子科技大学微电子研究所
【出 处】
:
微电子学
【发表日期】
:
2000年4期
【关键词】
:
槽栅MOSFET
VLSI
MOS器件
Grooved gate MOSFET
Deep submicron device
Small size effec
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随产丰VLSIK器件尺寸越来越小,槽栅MOS器件被作为在深亚微9米及亚0.1范围极具应用前景的理想同出来。文中介绍了槽顺件提出的背景,论述了槽栅MOS器件的结构与特点,并就其发展现状和趋势以及存在的问题进行了概括和总结。
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