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运用表面热透镜技术精确测量了1315nm高反射硅镜的弱吸收，判断引起吸收的原因，从而为工艺上减少吸收降低损耗提供了保证。
用表面热透镜技术测量1315nm高反射硅镜弱吸收的研究
【摘 要】
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运用表面热透镜技术精确测量了1315nm高反射硅镜的弱吸收，判断引起吸收的原因，从而为工艺上减少吸收降低损耗提供了保证。
【机 构】
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中国科学院上海光学精密机械研究所
【出 处】
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强激光与粒子束
【发表日期】
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2000年B11期
【基金项目】
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国家863激光技术领域资助课题
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