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脑缺血再灌注（I/R）损伤具有复杂的发生机制。大量研究表明,脑I/R损伤主要与钙超载、兴奋性氨基酸、氧化应激反应、炎症反应、脑水肿和细胞凋亡等有关。其中,Ca2＋超载及其触发的一系列有害代谢反应是导致I/R损伤神经细胞损伤和死亡的“最后共同通路”。
脑缺血再灌注损伤神经细胞非谷氨酸依赖性钙离子通道研究进展
【摘 要】
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脑缺血再灌注（I/R）损伤具有复杂的发生机制。大量研究表明,脑I/R损伤主要与钙超载、兴奋性氨基酸、氧化应激反应、炎症反应、脑水肿和细胞凋亡等有关。其中,Ca2＋超载及其触发的
【机 构】
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天津中医药大学第一附属医院
【出 处】
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中国老年学杂志
【发表日期】
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2011年7期
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