Monte Carlo模拟在细胞辐射损伤中的应用

来源 :辐射研究与辐射工艺学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:tuaa29801
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本文利用Monte Carlo方法模拟细胞辐射损伤过程,以提供精确微观的数字化损伤产额结果。采用MCDS/MCER/VC系列程序模拟研究了电子束照射下DNA损伤产额随能量的变化,结果表明低能电子更容易造成DNA双链断裂。依据MCDS/MCER输出的SSB和OTHER产额,计算了酶解DSB产额,结果显示,入射能量变化对酶解DSB产额影响很小,但不同的修复机制却对其存在显著影响。采用能谱加权的方法得到了5种β放射性核素(Lu-177,Cu-67,Re-186,Re-188和Y-90)对DNA损伤的产额,结果表
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