X射线荧光基本参数法测定Y1―xCexBa2cu3Oy强的钇铈钡铜

来源 :光谱学与光谱分析 | 被引量 : 0次 | 上传用户:wcz741335565
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该文用X射线荧光光谱基本参数法测定了Y1-XCEXBA2CU3OX系列样品中的钇铈钡铜含量,然后折算成它们的原子比,测量的结果与ICP的结果接近,为非破坏地测定高温超导体的实际组分进行了一次尝试.
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