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为了提高基于CCD测量系统的测量精度, 对传统的基于CCD的测量方法和测量精度进行了研究。当CCD成像平面与被测物体成一夹角α时, 导出空间距离与图像像素之间的非线性关系。提出了通过标定和校准来提高基于CCD测量精度的新方法。实际结果表明, 该方法可满足对大尺寸物体的高精度测量。
提高基于CCD测量精度的新方法
【摘 要】
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为了提高基于CCD测量系统的测量精度, 对传统的基于CCD的测量方法和测量精度进行了研究。当CCD成像平面与被测物体成一夹角α时, 导出空间距离与图像像素之间的非线性关系。提出了通过标定和校准来提高基于CCD测量精度的新方法。实际结果表明, 该方法可满足对大尺寸物体的高精度测量。
【机 构】
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常州工学院,江苏常州213002
【出 处】
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光学技术
【发表日期】
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2013年39期
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