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该文针对目前马铃薯缺陷检测方法费时费力、仪器设备昂贵和涉及强磁场等问题,提出了基于电阻层析成像方法实现对马铃薯缺陷检测,研究了马铃薯缺陷电阻成像物场阵列数据获取方式。该文在对成像物理场建立建模基础上,研究不同电极形状对物场电势、等值线等电学特性的影响,以及激励电极形状、电极覆盖率、激励方式对敏感场电势分布仿真研究。最终确定物场阵列数据获取方式,电极结构优化。