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针对采用光学法、电学法测量半导体禁带宽度时操作与数据计算都不够简便的问题，依据半导体物理学的基本规律：由半导体材料组成的PN结其正向电压VF和温度T在一定条件下具有高度的线性相关，利用常用物理实验仪器采集PN结的电压和温度信号，并加以放大和转换；单片机自动采集、存储、线性化放大和转换后的电压和温度信号，计算后显示测量结果．测量结果较准确、测量误差较小，用单片机对禁带宽度的实际测量可行、简便．