集成电路发展到今天的SoC时代,遇到最为棘手的问题是SoC芯片的可测性问题和测试良率问题。而没有高测试良率的产品是没有竞争力的。如何有效及时地开发出良率最大化的测试程序逐渐成为测试业界最关心的问题之一。本课题主要研究基于SoC测试程序的设计和实现,其目的是开发出一款具有高良率的测试程序用于高性能高集成的DVD刻录功能SoC的测试。从硬、软件两方面,深入研究了提高测试良率的测试方法和调试技术。本文介绍了一般提高测试程序良率的方法,提出并着重研究了使用Corner芯片调试新方法来进行测试程序良率的最大化。同时,针对具体影响良率的问题,通过分析研究,在现行方法的基础上提出了新方法,从而解决了影响测试程序良率的问题。并且通过实验结果验证了新方法能够提高测试良率并达到预期的良率水平,保证了最终大规模生产的高良率,对公司的销售和成本节约计划有很大帮助。