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详细说明了用微波反射光电导衰减 (μ PCD)测量碲镉汞材料 (MCT)中少数载流子寿命的原理。μ PCD系统对样品少数载流子寿命的测量范围为 2 0ns至 3ms,测量温度可以从 80K到 32 5K变化 ,整个系统的测量由计算机控制自动进行 ,可以对样品进行X Y平面扫描测量并进行结果数据分析。同时 ,还报道了用 μ PCD技术测量液相外延MCT薄膜材料少数载流子寿命的结果