目的建立作业工人尿中钴和钨的电感耦合等离子体质谱测定方法。方法经1%硝酸稀释20倍后的尿样直接进入电感耦合等离子体质谱仪（ICP-......

一、引言次级离子质谱(Secondary Ion Mass spectrometry,简称SIMS)是七十年代新发展起来的一种表面分析技术。X光光电子能谱(ESC......

电子束溅射随遇质谱测定法(SNMS)是一种定量表面分析新方法,在半导体、化学和冶金工业中具有广泛的应用。SNMS能测定所有的元素和......