石英晶片相关论文
基于关系数据库设计了一个谐振器石英晶片的专家系统.主要方法：简化和规范了AT切型圆形谐振器晶片设计流程；以晶片规格设计为主,兼顾......
石英振梁加速度计(RBA)技术自出现以来就一直是惯导仪表的一个重要发展方向.它直接输出频率信号,不必经A/D转换,直接进入导航计算......
随着电子信息产业的飞速发展，对高质量石英晶体元器件的需求大增，这对石英晶体元器件生产配套设备的要求也越高。但是目前国内石英晶......
近年来，随着石英晶体在电子技术领域越来越广泛的应用，我国石英晶体行业迅速发展，但用于晶体生产过程中的高精度频率监控设备基本上依......
随着石英晶体元器件产业的快速发展,对石英晶片的加工质量、效率提出了更高要求。如何方便、高效地获得超平滑、无损伤的表面质量,......
采用物理吸附法和聚乙烯亚胺/戊二醛法将碳酸酐酶固定在压电石英晶片上,初步研究了其对水中溶解的二氧化碳的响应,作为酶传感器对......
本文主要研究了一种集晶片频率测量、分选于一体的新型石英晶片测量与分选的自动控制系统。此系统由两个子系统组成，都是以计算机为......
石英晶片是制造石英晶体振荡器的重要材料，设计石英晶体振荡器的第一步是选择石英晶片的切型，第二步是在此切型的基础上选择石英晶片......
本课题就是要配合研制国产全自动X射线石英晶片角分类机的需要，研制这样一种基于CCD技术的回转台动态倾角测试系统。通过对面阵CCD......
石英晶片已被广泛的应用于电子技术的各个方面，例如凡是用到微处理器的电子元件，都需要采用晶体谐振器作为时钟振荡源来保持系统的频......
由于自动测量的需要,晶片的测量采用非接触方式,即有气隙测量方式实现.提出了包含气隙时晶片的等效电参数模型,与无气隙测量时晶片......
随着科学技术的快速发展,石英晶体已经被电子行业所广泛应用.在微电子的领域当中,石英晶片关键用处就是石英晶振部件的制造,所以石......
石英晶片在微电子领域中主要用来生产石英晶振元件.石英晶片的质量直接决定着晶振的性能和可靠性,而且研磨是确保石英晶片表面质量......
石英晶片在外观方面存在的缺陷主要包括崩边、玷污以及缺角等,而这些缺陷的出现非常可能会影响石英晶体在电参数方面的性能,比如频......
对石英晶片实施亲水的处理,使用H2SO4/H2O2浓溶液、浓HCI/H2O2溶液、溶液及RCA清洗法,之后再使用荧光蛋白进行扫描检验这四类方法......
剪切增稠抛光(STP)是利用非牛顿流体抛光液在抛光过程中产生的剪切增稠效应实现工件表面高效、低损伤的抛光.本文以材料去除率和表......
研制晶片自动分选机的主要难点是晶片自动分选机测试系统的研制。其测量特点决定了考虑测量气隙时晶片的电参数模型不同于理想的电......
“新型氧化铈抛光粉”是国家科技部资助项目，它主要用于电子信息材料的抛光，如电视玻壳、电脑玻壳、真空导电玻璃 (I.T.O)抛光，石英晶......
本文介绍了“QB-60A型石英晶片自动分选系统”的测试单元——石英晶片谐振器的工作原理以及实现方法。......
申请号:201810172322【公开号】CN108362420A【公开日】2018.08.03【申请日】2018.03.01【申请人】西京学院【发明人】林鹏【摘要......
本文主要介绍分选设备中上料装置的选择，详细分析了该上料装置的结构及电学特点。...
研制晶片自动分选机的主要难点是晶片自动分选机测试系统的研制，其测量特点决定了考虑测量气隙时晶片的电参数模型不同于理想的电参......
石英晶片自动分选机的设计对提高国内石英晶片测试行业水平具有重要的实用价值.测控系统采用π网络零相位技术,主要由计算机、信号......
在SMD石英晶体器件生产流程中，需要将每一片石英晶片装到特制的镀膜板上，称作上片工序。由于该工序对操作精度要求极高，通过人工方式......
在石英晶体器件生产过程中,对器件中的关键部件石英晶片的分类是必不可少的一道工序。为了提高产能,必须大量应用自动分选设备。本......
分别用浓H2SO4/H2O2溶液、浓HCl／H2O2溶液、NH3·H2O／H2O2溶液以及CA清洗法对石英晶片进行亲水化处理，再用荧光蛋白扫描来检验4种......
该文利用石英晶片的压电特性，针对传统倾角传感器的缺点，提出了一种新型的倾角传赢器设计方法。应用本文提出的设计方法设计出的传感......
为了克服以往压电三向钻削测力仪采用石英晶片较多,因此装配工艺很高,调试麻烦,制造成本很高的缺点,设计出只采用4片压电石英晶片......
随着高可靠、长寿命航天器的发展,对在轨污染检测的要求也越来越高.石英晶体微量天平是分子污染检测的重要工具,为了分析了解原子......
石英晶片外观缺陷自动分选系统使用ARM处理器作为主控制器,通过控制步进电机来实现对机械臂、料盘和出料桶的控制。采用ARM与PC机......
提出一种在线检测石英压电晶片在研磨过程中频率变化的方法,以便自动控制晶片研磨厚度.以TMS320F240 DSP为核心构成测控系统,应用P......
阐述了基于 ISA总线接口的测量系统 ,采用 π网络法测量石英晶片的电参数 ,使用直接数字频率合成器( DDS)生成期望的频率扫描信号......
污垢检测是石英晶片缺陷检测的重要组成部分。为实现比较理想的污垢检测,采用基于开源计算机视觉库OpenCV的图像处理技术对石英晶......
石英晶片是最重要的电子元件,其物理参数的测量直接影响电子产品的质量。本文考虑实际气隙的影响,建立了石英晶片的等效电路模型;......
本文所研究设计的基于单片机系统的石英晶片厚度检测仪是为生产中测量晶片厚度而设计的,它利用LVDT传感器检测晶片厚度信息,在单片......
本文阐述了石英晶片真空蒸发镀膜测控的基本原理和镀膜过程中石英晶片谐振频率变化与镀膜厚度之间的关系。主要研究了以W77E516单......
研究符合IEC标准的石英晶片测试技术,介绍了π网络零相位法石英晶片测试系统的设计,分析了测头气隙对测试精度的影响.所设计的系统......
近年来,半导体技术的不断进步也带动了上游特殊材料和装备行业的快速发展。在半导体器件生产制造的所有制程中几乎每道工序都面临......
