滚动轴承广泛应用于各类旋转机械,其零部件失效是造成机械故障最常见原因之一。当滚动体通过缺陷时,滚动体与滚道之间的接触力会发......

第10届“半导体中扩展缺陷”国际学术会议于2004年9月12日在俄罗斯莫斯科举行，共有150多名代表参加。会议主席是著名硅晶体位错研究......

用二次离子质谱方法，测量了ＳＩＭＯＸ样品的各层结构和杂质分布。讨论了测量的方法。说明了ＳＩＭＯＸ材料顶部硅层的捩缺陷和杂质的施主作用。要制作适......

用正电子湮没技术和若干金属物理方法相结合测量了几种工程合金，表明正电子湮没技术可以有效地探测微小沉淀相的存在，可为它的进一步......

化合物半导体碲锌镉(CdZnTe)晶体被认为是最具潜力的室温半导体核辐射探测器材料。然而由于生长过程以及后续器件制备过程的复杂性......

利用自主研发的热壁低压化学气相沉积(HWLPCVD)系统,在5.08 cm(2英寸)4°偏轴4H-SiC衬底上生长4H-SiC同质外延膜。讨论了4H-SiC同......