扫描链相关论文
随着半导体技术的不断扩展,互连延迟和功耗等限制了工艺尺寸的进一步缩放。为了打破这些瓶颈,业界和研究机构正在探索三维集成,例......
近年来,为了使芯片的上市周期缩短提高效率,节省成本,SoC(System on Chip)已经开始推广运用能够复用的IP(Intellectual Property)核,DD......
扫描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法,该方法是提高测试质量的有效手段.由于扫描链及其控制逻辑可能会占到整个芯片面......
本文首先说明硅验证的重要性,然后针对芯片内关键数字电路的硅验证实际困难,介绍一种基于扫描链实现硅验证的方法。这种方法解决了......
当亚微米技术取得将数十万晶体管集成在一小块硅片上的辉徨成绩时,集成电路设计者可以不太费力地把传统中相当于一个系统的电路,......
本文在边界扫描原理的基础上,对几种边界扫描单元(输入,输出,三态输出,双向)的结构做了设计和实现。
Based on the principle of ......
简要介绍了测试综合的概念,实现测试综合的两种设计流程以及目前国际上常用的测试综合工具的特点,并展望了测试综合的发展趋势
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本文讨论了板级生产测试的开发。该电路板采用表面安装技术,并实现了边界扫描。板上混装了几种类型的器件。文章介绍了一种有效开......
提出了部分扫描可测性设计的最优实现方法,包括扫描触发器的选取、组合功能块的划分、扫描链的排序以及测试码生成等几部分内容
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本文提出了多链扫描可测性设计中扫描链的构造方法.根据电路的规模、输人/输出管脚数及测试时间的要求确定扫描链个数,引人临界时间的......
美国Hewlett-Packard公司的HP3070系列3测试仪,适用于在线测试和诊断,其吞吐速度为现有测试仪的两倍,而
The HP3070 Series 3 Te......
芯片系统是近几年提出的。一种新技术出现,必然要有新的测试技术跟上。本文就芯片测试问题提出了一些看法。
Chip system is prop......
可变长度边界扫描电路,作为一个通用器件与非边界扫描电路结合而构成一个具有边界扫描能力的模块,以改善电路的可测性,并能够适应端口......
本文讨论了传统印制板测试技术的局限性,以及边界扫描测试技术应用于印制板测试所带来的影响。
This article discusses the limi......
本文以先行进位加法器为例,将确定性测试方法与伪随机测试方法相结合,提出了实现内建自测试电路中测试生成器的、在测试时间和测试电......
本文介绍了测试技术的演进,并例举了Synopsys公司,Syntest Technologies等公司在研发DET技 术中的例子。
This article describes......
本文论述了边界扫描技术的基本原理和边界扫描在电路板测试及在FPGA、DSP器件中的应用。介绍了为提高电路板的可测试性而采用边界......
其多用途、多功能和特性的强力组合可在产品供应链上配置器件IDT公司(Integrated Device Technology,Inc.)宣布推出新款高端多用......
本文针对VLSI的时延测试进行了研究和讨论。介绍了几种实现时延测试的方法,并提出了一种低成本实现时延测试的策略。在实际应用中......
本文利用Altera公司的FPGA和EDA工具MAX+plusⅡ和实现了基本的边界扫描结构电路,利用此设计可以满足数字电路系统可测性设计和在系......
随着SoC的复杂度和规模的不断增长,SoC的测试变得越来越困难和重要。针对某复杂32-bit RISC SoC,提出了一种系统级DFT设计策略和方......
本文介绍了一款基于65nm工艺的数字处理芯片的可测性设计,采用了边界扫描测试,存储器内建自测试和内部扫描测试技术。这些测试技术......
主要通过边界扫描的方式对一种高密度数字电路板进行测试,该方法可提高测试覆盖率和故障覆盖率,并能够自动进行故障诊断,定位故障......
传统扫描链将所有扫描单元串联,测试数据的移位路径较长,导致测试移位功耗较大.首次提出代表扫描结构,它将传统扫描链或子链中的触......
数字集成电路在制造过程中受到制造工艺、技术以及外围环境等因素的影响,可能会导致芯片中存在缺陷。在芯片上市之前,必须找出这些存......
半导体制造工艺的发展带来了晶体管单片集成度的增加,电路设计能力的提升推进了集成电路功能和复杂度的提高。这样,集成电路规模便......
随着集成电路设计与工艺水平的进步,芯片的集成度与规模显著提高。同时,由于晶体管密度的提高,单位面积内出现物理缺陷的概率也会......
随着信息化的高速发展,信息安全问题日显突出,密码芯片越来越多的被应用于保护信息安全的领域。密码芯片的安全性仅依赖于密钥的保......
现场可编程门阵列(FPGA)以其设计周期短、可重复编程、低成本、操作灵活等优点,而广泛应用于当前众多空间电子系统中。然而,随着集......
由于集成电路(IC)设计越来越复杂,人们在集成电路领域中投入了越来越多的资金和人力。非法复制和传播IC的风险也在逐渐增加。因此,......
芯片(integrated circuits,ICs)如今已经应用在人类生活的方方面面。随着万物互联时代的到来,芯片的应用规模将达到新的高度。芯片......
随着半导体工艺的不断进步,那些原本存在于芯片中的大型存储器会转变为数十数百个小型存储器,并分布在芯片中各个角落。宏测试是用......
对现在流行的JTAG加载FLASH技术的原理、性能(实验结果)、应用场合及运用JTAG 技术加载FLASH的好处进行比较详细的分析。
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随着ICS越来越复杂,对其进行测试变得越来越困难。复杂的时序电路,如微处理器,可能需要数百万条测试矢量来检测故障。对有些电路,......
单片系统,即SOC,是人们希望把电子产品做得更小一些,实际上是想把整个系统都放在一块小小的硅片上的必然结果。但对单片系统的测试......
本文主要介绍了用于ASIC检测与诊断的一种新方法:ScanBIST,并对可测性设计,边界扫描技术进行了研究。
This article mainly intro......
本文提出了一种新的方法和综合技术用来去除多扫描链内建测试中由线形反馈移位寄存器引起的测试向量线性关联性。利用本方法可以高......
本文对部分扫描法可测性设计进行了系统的分析,介绍了部分扫描法的最新进展,讨论了目前部分扫描法在集成电路设计应用中存在的问题......
提出了一种新的并行扫描结构。扫描触发器的选择采用BALLAST算法。该结构采用译码的方式依次选通每个扫描小组,使得扫描小组中的存储元件并......
复用数据总线作为测试传输机构的测试结构可以大大减小可测性设计的面积开销。因此 ,提出了一种针对该结构的测试包设计新方法 :通......
对部分扫描法可测性设计进行了系统的分析,介绍了部分扫描法的最新进展,讨论了目前部分扫描法在集成电路设计中应用存在的问题,在此基......